Analisi dei semiconduttori
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DB-FIB
Introduzione al servizio Attualmente, il sistema DB-FIB (Dual Beam Focused Ion Beam) è ampiamente utilizzato nella ricerca e nell'ispezione dei prodotti in settori quali: Materiali ceramici, Polimeri, Materiali metallici, Studi biologici, Semiconduttori, Geologia Ambito del servizio Materiali semiconduttori, materiali organici a piccole molecole, materiali polimerici, materiali ibridi organici/inorganici, materiali inorganici non metallici Background del servizio Con il rapido progresso dell'elettronica dei semiconduttori e dei circuiti integrati... -
Analisi fisica distruttiva
Le consistenze di qualitàdel processo di fabbricazioneIncomponenti elettroniciSonoil prerequisitoaffinché i componenti elettronici soddisfino le specifiche di utilizzo e quelle correlate. Un gran numero di componenti contraffatti e ricondizionati sta inondando il mercato della fornitura di componenti, l'approccioper determinare l'autenticità dei componenti dello scaffale è un problema importante che affligge gli utenti dei componenti.
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Analisi dei guasti
Con la riduzione del ciclo di ricerca e sviluppo aziendale e la crescita della scala produttiva, la gestione e la competitività dei prodotti aziendali si trovano ad affrontare molteplici pressioni provenienti dai mercati nazionali ed esteri. La qualità del prodotto è garantita per l'intero ciclo di vita e il basso tasso di guasto, se non addirittura nullo, diventa un fattore chiave per la competitività di un'azienda, ma rappresenta anche una sfida per il controllo qualità aziendale.
