Copre i tradizionali tipi di chip digitali, analogici, ibridi digitale-analogici e altri.
● Progettazione hardware di test CP
L'hardware di prova è una scheda PIN, utilizzata per la connessione fisica tra ATE e DIE.
● Progettazione hardware di test FT
L'hardware di test è loadboard+socket+changekit, utilizzato per testare la connessione fisica tra l'apparecchiatura e il chip confezionato.
● Verifica a livello di consiglio
Per creare un ambiente di lavoro del chip "simulato", testare la funzione del chip o verificare se il chip può funzionare normalmente in vari ambienti difficili.
● Test SLT
Una funzione di test nell'ambiente del sistema per rilevare la qualità e un mezzo supplementare di FT, principalmente per i dispositivi SOC.
La Divisione Test e Analisi di Circuiti Integrati è un fornitore leader di servizi tecnici per programmi di valutazione della qualità e miglioramento dell'affidabilità dei semiconduttori nazionali, ha investito più di 300 apparecchiature di test e analisi di fascia alta, ha formato un team di talenti con medici ed esperti come nucleo e ha creato 8 esperimenti speciali.Fornisce analisi professionali dei guasti e produzione a livello di wafer per le imprese nei settori della produzione di apparecchiature, automobili, elettronica di potenza e nuova energia, comunicazioni 5G, dispositivi e sensori optoelettronici, trasporti e materiali ferroviari e fabbriche.L'analisi dei processi, lo screening dei componenti, i test di affidabilità, la valutazione della qualità dei processi, la certificazione dei prodotti, la valutazione della durata e altri servizi aiutano le aziende a migliorare la qualità e l'affidabilità dei prodotti elettronici.
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